Počet záznamů: 1
Strain Mapping by Scanning Low Energy Electron Microscopy
- 1.
SYSNO 0367893 Název Strain Mapping by Scanning Low Energy Electron Microscopy Tvůrce(i) Mikmeková, Šárka (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Man, O. (CZ)
Pantělejev, L. (CZ)
Hovorka, Miloš (UPT-D)
Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Kouřil, M. (CZ)Zdroj.dok. Materials Structure and Micromechanics of Fracture VI (Key Engineering Materials Vol. 465). S. 338-341. - Zurich : Trans Tech Publications, 2011 / Šandera P. Konference MSMF-6: Materials Structure and Micromechanics of Fracture VI, Brno, 28.06.2010-30.06.2010 Druh dok. Konferenční příspěvek (zahraniční konf.) Grant IAA100650902 GA AV ČR - Akademie věd OE08012 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy CEZ AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011) Jazyk dok. eng Země vyd. CH Klíč.slova scanning low energy electron microscopy (SLEEM) * contrast of crystal orientation * microscopic strain Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0202409
Počet záznamů: 1