Počet záznamů: 1

Fourier transform photocurrent measurement of thin silicon films on rough, conductive and opaque substrates

SYSNO	0366182
Název	Fourier transform photocurrent measurement of thin silicon films on rough, conductive and opaque substrates
Tvůrce(i)	Holovský, Jakub (FZU-D)_{RID, ORCID} Dagkaldiran, U. (DE) Remeš, Zdeněk (FZU-D)_{RID, ORCID} Purkrt, Adam (FZU-D)_RID Ižák, Tibor (FZU-D)_RID Poruba, Aleš (FZU-D)_RID Vaněček, Milan (FZU-D)_RID
Zdroj.dok.	Physica Status Solidi A : Applications and Materials Science. Roč. 207, č. 9 (2010), s. 578-581. - : Wiley
Druh dok.	Článek v odborném periodiku
Grant	GD202/09/H041 GA ČR - Grantová agentura ČR
	GA202/09/0417 GA ČR - Grantová agentura ČR
	38885, XE - země EU
CEZ	AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011)
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	DE
Klíč.slova	solar cell * silicon * spectroscopy
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0201253

Počet záznamů: 1