Počet záznamů: 1

Multidimensional interferometric tool for the local probe microscopy nanometrology

SYSNO	0366031
Název	Multidimensional interferometric tool for the local probe microscopy nanometrology
Tvůrce(i)	Hrabina, Jan (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Lazar, Josef (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Klapetek, P. (CZ) Číp, Ondřej (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID}
Zdroj.dok.	Measurement Science and Technology. Roč. 22, č. 9 (2011), 094030:1-8. - : Institute of Physics Publishing
Druh dok.	Článek v odborném periodiku
Grant	LC06007 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
	KAN311610701 GA AV ČR - Akademie věd
	GA102/09/1276 GA ČR - Grantová agentura ČR
CEZ	AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011)
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	GB
Klíč.slova	atomic force microscopy (AFM) * nanometrology * nanopositioning interferometry * nanoscale
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0201133

Počet záznamů: 1