Počet záznamů: 1
In-situ synchrotron X-Ray diffraction investigation of the fast recovery of microstructure during electropulse treatment of heavily cold drawn nanocrystalline Ni-Ti wires
- 1.
SYSNO 0365167 Název In-situ synchrotron X-Ray diffraction investigation of the fast recovery of microstructure during electropulse treatment of heavily cold drawn nanocrystalline Ni-Ti wires Tvůrce(i) Malard, B. (FR)
Pilch, Jan (FZU-D) RID
Šittner, Petr (FZU-D) RID, ORCID
Delville, R. (BE)
Curfs, C. (FR)Zdroj.dok. Solid State Phenomena. 172-174, č. 6 (2011), s. 1243-1248 Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant IAA200100627 GA AV ČR - Akademie věd, CZ - Česká republika LA10010 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika CEZ AV0Z10100520 - FZU-D (2005-2011) Jazyk dok. eng Země vyd. CH Klíč.slova recovery process * electropulse treatment * in-situ analysis * superelasticity Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0200473
Počet záznamů: 1