Počet záznamů: 1
Exchange bias of a ferromagnetic semiconductor by a ferromagnetic metal: Fe/(Ga,Mn)As bilayer films studied by XMCD measurements and SQUID magnetometry
- 1.
SYSNO 0354476 Název Exchange bias of a ferromagnetic semiconductor by a ferromagnetic metal: Fe/(Ga,Mn)As bilayer films studied by XMCD measurements and SQUID magnetometry Tvůrce(i) Olejník, Kamil (FZU-D) RID, ORCID
Wadley, P. (GB)
Haigh, J.A. (GB)
Edmonds, K. W. (GB)
Campion, R. P. (GB)
Rushforth, A.W. (GB)
Gallagher, B. L. (GB)
Foxon, C. T. (GB)
Jungwirth, Tomáš (FZU-D) RID, ORCID
Wunderlich, Joerg (FZU-D) RID, ORCID
Dhesi, S.S. (GB)
Cavill, S.A. (GB)
van der Laan, G. (GB)
Arenholz, E. (US)Zdroj.dok. Physical Review. B. Roč. 81, č. 10 (2010), 104402/1-104402/5 Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant 215368, XE - země EU 214499, XE - země EU KAN400100652 GA AV ČR - Akademie věd LC510 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy CEZ AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011) Jazyk dok. eng Země vyd. US Klíč.slova ferromagnetic semiconductors * exchange bias Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0193470
Počet záznamů: 1