Počet záznamů: 1

Detection of Secondary Electrons by Scintillation Detector in Variable Pressure Scanning Electron Microscopes

SYSNO	0353046
Název	Detection of Secondary Electrons by Scintillation Detector in Variable Pressure Scanning Electron Microscopes
Tvůrce(i)	Jirák, J. (CZ) Čudek, P. (CZ) Neděla, Vilém (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI}
Zdroj.dok.	Proceedings of the 17th IFSM International Microscopy Congress. I10.14: 1-2. - Rio de Janeiro : Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanilise, 2010
Konference	International Microscopy Congress (IMC17) /17./, Rio de Janeiro, 19.09.2010-24.09.2010
Druh dok.	Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Grant	GAP102/10/1410 GA ČR - Grantová agentura ČR
CEZ	AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011)
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	BR
Klíč.slova	VPSEM * scintillation detector
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0192396

Počet záznamů: 1