Počet záznamů: 1
Limits of applicability of a time-of-flight ion-mass analyzer in uncovering partial currents of ions emitted by pulsed laser ion sources
- 1.
SYSNO 0352581 Název Limits of applicability of a time-of-flight ion-mass analyzer in uncovering partial currents of ions emitted by pulsed laser ion sources Tvůrce(i) Krása, Josef (FZU-D) RID, ORCID
Láska, Leoš (FZU-D)
Rohlena, Karel (FZU-D) RID
Velyhan, Andriy (FZU-D) RID, ORCID
Czarnecka, A. (PL)
Parys, P. (PL)
Ryc, L. (PL)
Wolowski, J. (PL)Zdroj.dok. Radiation Effects and Defects in Solids. Roč. 165, 6-10 (2010), s. 441-450. - : Taylor & Francis Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant LC528 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika IAA100100715 GA AV ČR - Akademie věd 228334, XE - země EU CEZ AV0Z10100523 - FZU-D (2005-2011) Jazyk dok. eng Země vyd. GB Klíč.slova laser-produced plasma * time-resolved current deconvolution * ion velocity distribution * drift velocity of ions Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0192061
Počet záznamů: 1