Počet záznamů: 1

Laser source for interferometry in nanotechnology

SYSNO	0352207
Název	Laser source for interferometry in nanotechnology
Tvůrce(i)	Hrabina, Jan (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Lazar, Josef (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Číp, Ondřej (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Čížek, Martin (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI}
Zdroj.dok.	17th Slovak-Czech-Polish Optical Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics (Proceedings of SPIE Vol. 7746). 77461I: 1-6. - Bellingham : SPIE, 2010
Konference	Slovak-Czech-Polish Optical Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics /17./, Liptovsky Jan, 06.09.2010
Druh dok.	Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Grant	LC06007 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
	2C06012 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
	2A-1TP1/127 GA MPO - Ministerstvo průmyslu a obchodu
	FT-TA3/133 GA MPO - Ministerstvo průmyslu a obchodu
	2A-3TP1/113 GA MPO - Ministerstvo průmyslu a obchodu
	GA102/09/1276 GA ČR - Grantová agentura ČR
	GA102/07/1179 GA ČR - Grantová agentura ČR
CEZ	AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011)
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	US
Klíč.slova	atomic force microscopy * nanometrology * interferometry
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0191774

Počet záznamů: 1