Počet záznamů: 1

Interferometer controlled positioning for nanometrology

SYSNO	0352199
Název	Interferometer controlled positioning for nanometrology
Tvůrce(i)	Lazar, Josef (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Číp, Ondřej (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Čížek, Martin (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Hrabina, Jan (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Šerý, Mojmír (UPT-D)_{RID, SAI} Klapetek, P. (CZ)
Zdroj.dok.	2nd International Conference NANOCON 2010. S. 287-291. - Ostrava : Tanger s.r.o, 2010
Konference	NANOCON 2010. International Conference /2./, Olomouc, 12.10.2010-14.10.2010
Druh dok.	Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Grant	LC06007 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
	KAN311610701 GA AV ČR - Akademie věd
	GA102/09/1276 GA ČR - Grantová agentura ČR
CEZ	AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011)
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	CZ
Klíč.slova	nanometrology * interferometry * local probe microscopy * nanopositioning
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0191768

Počet záznamů: 1