Počet záznamů: 1

Interferometer Controlled Positioning for Nanometrology

SYSNO	0352196
Název	Interferometer Controlled Positioning for Nanometrology
Tvůrce(i)	Lazar, Josef (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Číp, Ondřej (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Čížek, Martin (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Hrabina, Jan (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Šerý, Mojmír (UPT-D)_{RID, SAI}
Zdroj.dok.	Proceedings of the International Conference on Nanotechnology: Fundamentals and Applications. 525: 1-5. - Ottawa : International ASET, 2010
Konference	Nanotechnology: Fundamentals and Applications, Ottawa, 04.08.2010-06.08.2010
Druh dok.	Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Grant	LC06007 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
	KAN311610701 GA AV ČR - Akademie věd
	FR-TI1/241 GA MPO - Ministerstvo průmyslu a obchodu
	GA102/09/1276 GA ČR - Grantová agentura ČR
CEZ	AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011)
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	CA
Klíč.slova	atomic force microscopy * interferometer controlled positioning
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0191766

Počet záznamů: 1