Počet záznamů: 1

Semiconductor laser sources at 760 nm wavelength for nanometrology

SYSNO	0352185
Název	Semiconductor laser sources at 760 nm wavelength for nanometrology
Tvůrce(i)	Mikel, Břetislav (UPT-D)_{RID, SAI} Buchta, Zdeněk (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Lazar, Josef (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Číp, Ondřej (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID}
Zdroj.dok.	Proceedings of the 9th WSEAS International Conference on Microelectronics, Nanoelectronics, Optoelectronic. S. 96-101. - Sofia : WSEAS EUROPMENT Press, 2010
Konference	WSEAS International Conference on Microelectronics, Nanoelectronics, Optoelectronic /9./, Catania, 29.05.2010-31.10.2010
Druh dok.	Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Grant	2A-1TP1/127 GA MPO - Ministerstvo průmyslu a obchodu
	ED0017/01/01 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
	GP102/09/P293 GA ČR - Grantová agentura ČR
	GP102/09/P630 GA ČR - Grantová agentura ČR
CEZ	AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011)
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	BG
Klíč.slova	laser interferometry * absolute measurement * tunable laser diodes
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0191758

Počet záznamů: 1