Počet záznamů: 1
Laser interferometric measuring system for positioning in nanometrology
- 1.
SYSNO 0351325 Název Laser interferometric measuring system for positioning in nanometrology Tvůrce(i) Lazar, Josef (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Číp, Ondřej (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Čížek, Martin (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Hrabina, Jan (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Šerý, Mojmír (UPT-D) RID, SAIZdroj.dok. WSEAS Transactions on Circuits and Systems. Roč. 9, č. 10 (2010), s. 660-669 Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant LC06007 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika KAN311610701 GA AV ČR - Akademie věd FR-TI1/241 GA MPO - Ministerstvo průmyslu a obchodu GA102/09/1276 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011) Jazyk dok. eng Země vyd. GR Klíč.slova Interferometry * local probe microscopy * nanometrology * nanopositioning * traceability Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0191103
Počet záznamů: 1