Počet záznamů: 1

Relation of nanoscale and macroscopic properties of mixed-phase silicon thin films

SYSNO	0347825
Název	Relation of nanoscale and macroscopic properties of mixed-phase silicon thin films
Tvůrce(i)	Fejfar, Antonín (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI} Vetushka, Aliaksi (FZU-D)_{RID, ORCID} Kalusová, V. (CZ) Čertík, Ondřej (FZU-D) Ledinský, Martin (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI} Rezek, Bohuslav (FZU-D)_{RID, ORCID} Stuchlík, Jiří (FZU-D)_{RID, ORCID} Kočka, Jan (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI}
Zdroj.dok.	Physica Status Solidi A : Applications and Materials Science. Roč. 207, č. 3 (2010), s. 582-586. - : Wiley
Druh dok.	Článek v odborném periodiku
Grant	LC06040 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
	KAN400100701 GA AV ČR - Akademie věd
	LC510 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
	IAA100100902 GA AV ČR - Akademie věd, CZ - Česká republika
CEZ	AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011)
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	DE
Klíč.slova	conductive atomic force microscopy (C-AFM) * mixed phase silicon thin films
URL	http://dx.doi.org/10.1002/pssa.200982907
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0188510

Počet záznamů: 1