Počet záznamů: 1

Raman mapping of microcrystalline silicon thin films with high spatial resolution

SYSNO	0347763
Název	Raman mapping of microcrystalline silicon thin films with high spatial resolution
Tvůrce(i)	Ledinský, Martin (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI} Vetushka, Aliaksi (FZU-D)_{RID, ORCID} Stuchlík, Jiří (FZU-D)_{RID, ORCID} Fejfar, Antonín (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI} Kočka, Jan (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI}
Zdroj.dok.	Physica Status Solidi C : Current Topics in Solid State Physics. Roč. 7, 3-4 (2010), s. 704-707
Druh dok.	Článek v odborném periodiku
Grant	LC06040 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
	KAN400100701 GA AV ČR - Akademie věd
	LC510 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
	IAA100100902 GA AV ČR - Akademie věd, CZ - Česká republika
CEZ	AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011)
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	DE
Klíč.slova	Raman * atomic force microscopy * microcrystalline silicon
URL	http://www3.interscience.wiley.com/journal/123277609/abstract
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0188466

Počet záznamů: 1