Počet záznamů: 1

Role of the tip induced local anodic oxidation in the conductive atomic force microscopy of mixed phase silicon thin films

SYSNO	0347762
Název	Role of the tip induced local anodic oxidation in the conductive atomic force microscopy of mixed phase silicon thin films
Tvůrce(i)	Vetushka, Aliaksi (FZU-D)_{RID, ORCID} Fejfar, Antonín (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI} Ledinský, Martin (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI} Rezek, Bohuslav (FZU-D)_{RID, ORCID} Stuchlík, Jiří (FZU-D)_{RID, ORCID} Kočka, Jan (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI}
Zdroj.dok.	Physica Status Solidi C : Current Topics in Solid State Physics. Roč. 7, 3-4 (2010), s. 728-731
Druh dok.	Článek v odborném periodiku
Grant	LC06040 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
	KAN400100701 GA AV ČR - Akademie věd
	LC510 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
	IAA100100902 GA AV ČR - Akademie věd, CZ - Česká republika
CEZ	AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011)
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	DE
Klíč.slova	local anodic oxidation (LAO) * conductive atomic force microscopy (C-AFM)
URL	http://www3.interscience.wiley.com/journal/123289759/abstract
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0188465

Počet záznamů: 1