Počet záznamů: 1

Profiling N-Type Dopants in Silicon

SYSNO	0340745
Název	Profiling N-Type Dopants in Silicon
Tvůrce(i)	Hovorka, Miloš (UPT-D) Mika, Filip (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Mikulík, P. (CZ) Frank, Luděk (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID}
Zdroj.dok.	Materials Transactions. Roč. 51, č. 2 (2010), s. 237-242. - : Japan Institute of Metals and Materials
Druh dok.	Článek v odborném periodiku
Grant	GP102/09/P543 GA ČR - Grantová agentura ČR
	IAA100650803 GA AV ČR - Akademie věd
CEZ	AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011)
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	JP
Klíč.slova	silicon * dopant contrast * photoemission electron microscopy * scanning electron microscopy
URL	http://www.jim.or.jp/journal/e/51/02/237.html
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0183926

Počet záznamů: 1