Počet záznamů: 1
Core level photoemission and STM characterization of Ta/Si(111)-7x7 interfaces
- 1.
SYSNO 0336680 Název Core level photoemission and STM characterization of Ta/Si(111)-7x7 interfaces Překlad názvu Fotoemise z vnitřních hladin a STM charakterizace rozhraní Ta/Si(111)-7x7 Tvůrce(i) Shukrynau, Pavel (FZU-D)
Dudr, Viktor (FZU-D)
Švec, Martin (FZU-D) RID, ORCID
Vondráček, Martin (FZU-D) RID, ORCID
Mutombo, Pingo (FZU-D) RID, ORCID
Skála, T. (IT)
Šutara, F. (CZ)
Matolín, V. (CZ)
Prince, K. C. (IT)
Cháb, Vladimír (FZU-D) RID, ORCIDZdroj.dok. Surface Science. Roč. 603, č. 3 (2009), s. 469-476. - : Elsevier Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant IAA1010413 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011) Jazyk dok. eng Země vyd. NL Klíč.slova tantalum * silicon * silicide * aAdsorption * photoelectron spectroscopy * scanning tunneling microscopy Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0180865
Počet záznamů: 1