Počet záznamů: 1
LiF enhanced nucleation of the low temperature microcrystalline silicon prepared by plasma enhanced chemical vapour deposition
- 1.
SYSNO 0336628 Název LiF enhanced nucleation of the low temperature microcrystalline silicon prepared by plasma enhanced chemical vapour deposition Tvůrce(i) Stuchlík, Jiří (FZU-D) RID, ORCID
Ledinský, Martin (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Honda, Shinya (FZU-D)
Drbohlav, Ivo (FZU-D) RID, ORCID
Mates, Tomáš (FZU-D) RID, ORCID
Fejfar, Antonín (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Hruška, Karel (FZU-D) RID, ORCID
Stuchlíková, The-Ha (FZU-D) RID, ORCID
Kočka, Jan (FZU-D) RID, ORCID, SAIZdroj.dok. Thin Solid Films. Roč. 517, č. 24 (2009), s. 6829-6832. - : Elsevier Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant KAN400100701 GA AV ČR - Akademie věd GD202/05/H003 GA ČR - Grantová agentura ČR, CZ - Česká republika LC510 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy IAA1010413 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011) Jazyk dok. eng Země vyd. CH Klíč.slova amorphous hydrogenated silicon * atomic force microscopy * plasma-enhanced chemical vapour deposition, * nucleation * Raman scattering * lithium fluoride Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0180823
Počet záznamů: 1