Počet záznamů: 1
Sub-micron focusing of soft x-ray free electron laser beam
- 1.
SYSNO 0336002 Název Sub-micron focusing of soft x-ray free electron laser beam Překlad názvu Mikrofokusace svazku měkkého rentgenového laseru s volnými elektrony Tvůrce(i) Bajt, S. (DE)
Chapman, H.N. (DE)
Nelson, A.J. (US)
Lee, R. W. (US)
Toleikis, S. (DE)
Mirkarimi, P. (US)
Alameda, J.B. (US)
Baker, S. L. (US)
Vollmer, H. (US)
Graff, R.T. (US)
Aquila, A. (US)
Gullikson, E.M. (US)
Meyer Ilse, J. (US)
Spiller, E.A. (US)
Krzywinski, J. (US)
Juha, Libor (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Chalupský, Jaromír (FZU-D) RID, ORCID
Hájková, Věra (FZU-D) RID, ORCID
Hajdu, J. (SE)
Tschentscher, T. (DE)Zdroj.dok. Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics II. 73610J/1-73610J/10. - Bellingham : SPIE, 2009 / Juha L. ; Bajt S. ; Sobierajski R. Konference Damage to VUV, EUV, and X-Ray Optics II, Prague, 21.04.2009-23.04.2009 Druh dok. Konferenční příspěvek (zahraniční konf.) Grant KAN300100702 GA AV ČR - Akademie věd LC510 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy LC528 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika LA08024 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy IAA400100701 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z10100523 - FZU-D (2005-2011) Jazyk dok. eng Země vyd. US Klíč.slova microfocuses * multilayer mirror * free electron laser beam URL http://dx.doi.org/10.1117/12.822498 Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0180334
Počet záznamů: 1