Počet záznamů: 1
Cathodoluminescence study of electron beam formed defects in polysilanes
- 1.
SYSNO 0335270 Název Cathodoluminescence study of electron beam formed defects in polysilanes Tvůrce(i) Schauer, P. (CZ)
Schauer, Petr (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Kuřitka, I. (CZ)
Nešpůrek, Stanislav (UMCH-V) [OPTOEL] RIDZdroj.dok. MC 2009 - Microscopy Conference: First Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Conference on Microscopy. Vol. 3: 383-384. - Graz : Verlag der Technischen Universität, 2009 Konference MC 2009 - Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Congress on Microscopy /9./, Graz, 30.08.2009-04.09.2009 Druh dok. Konferenční příspěvek (zahraniční konf.) Grant IAA100100622 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011) AV0Z40500505 - UMCH-V (2005-2011) Jazyk dok. eng Země vyd. AT Klíč.slova cathodoluminescence * electron beam degradation * poly[methyl(phenyl)silane] * PMPSi * silicon polymers URL http://www.univie.ac.at/asem/Graz_MC_09/papers/55161.pdf Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0179779
Počet záznamů: 1