Počet záznamů: 1  

Secondary electron contrast in doped semiconductor with presence of a surface ad-layer

  1. 1.
    SYSNO0335263
    NázevSecondary electron contrast in doped semiconductor with presence of a surface ad-layer
    Tvůrce(i) Mika, Filip (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Hovorka, Miloš (UPT-D)
    Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Zdroj.dok. MC 2009 - Microscopy Conference: First Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Conference on Microscopy. Vol. 1: 199-200. - Graz : Verlag der Technischen Universität, 2009
    Konference MC 2009 - Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Congress on Microscopy /9./, Graz, 30.08.2009-04.09.2009
    Druh dok.Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Grant GP102/09/P543 GA ČR - Grantová agentura ČR
    IAA100650803 GA AV ČR - Akademie věd
    CEZAV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011)
    Jazyk dok.eng
    Země vyd.AT
    Klíč.slova dopant contrast * secondary electrons * semiconductor
    URL http://www.univie.ac.at/asem/Graz_MC_09/papers/51426.pdf
    Trvalý linkhttp://hdl.handle.net/11104/0179773
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.