Počet záznamů: 1
Secondary electron contrast in doped semiconductor with presence of a surface ad-layer
- 1.
SYSNO 0335263 Název Secondary electron contrast in doped semiconductor with presence of a surface ad-layer Tvůrce(i) Mika, Filip (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Hovorka, Miloš (UPT-D)
Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCIDZdroj.dok. MC 2009 - Microscopy Conference: First Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Conference on Microscopy. Vol. 1: 199-200. - Graz : Verlag der Technischen Universität, 2009 Konference MC 2009 - Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Congress on Microscopy /9./, Graz, 30.08.2009-04.09.2009 Druh dok. Konferenční příspěvek (zahraniční konf.) Grant GP102/09/P543 GA ČR - Grantová agentura ČR IAA100650803 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011) Jazyk dok. eng Země vyd. AT Klíč.slova dopant contrast * secondary electrons * semiconductor URL http://www.univie.ac.at/asem/Graz_MC_09/papers/51426.pdf Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0179773
Počet záznamů: 1