Počet záznamů: 1

Profiling of N-type dopants in silicon structures

  1. 1.
    SYSNO0335261
    NázevProfiling of N-type dopants in silicon structures
    Tvůrce(i)lupa Hovorka, Miloš (UPT-D) - lupa Mika, Filip (UPT-D) - lupa Frank, Luděk (UPT-D)
    IdentifikaceMika, Filip (UPT-D) RID
    Frank, Luděk (UPT-D) RID
    Zdroj.dok.lupa MC 2009 - Microscopy Conference: First Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Conference on Microscopy. Vol. 1: 181-182. - Graz : Verlag der Technischen Universität, 2009
    Konferencelupa MC 2009 - Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Congress on Microscopy /9./, Graz, 30.08.2009-04.09.2009
    Druh dok.Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Jazyk dok.eng
    Země vyd.AT
    Klíč.slova silicon * dopants * PEEM * SEM
    URLhttp://www.univie.ac.at/asem/Graz_MC_09/papers/19923.pdf http://www.univie.ac.at/asem/Graz_MC_09/papers/19923.pdf
    Trvalý linkhttp://hdl.handle.net/11104/0179772