Počet záznamů: 1

Profiling of N-type dopants in silicon structures

SYSNO	0335261
Název	Profiling of N-type dopants in silicon structures
Tvůrce(i)	Hovorka, Miloš (UPT-D) Mika, Filip (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Frank, Luděk (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID}
Zdroj.dok.	MC 2009 - Microscopy Conference: First Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Conference on Microscopy. Vol. 1: 181-182. - Graz : Verlag der Technischen Universität, 2009
Konference	MC 2009 - Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Congress on Microscopy /9./, Graz, 30.08.2009-04.09.2009
Druh dok.	Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Grant	GP102/09/P543 GA ČR - Grantová agentura ČR
	IAA100650803 GA AV ČR - Akademie věd
CEZ	AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011)
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	AT
Klíč.slova	silicon * dopants * PEEM * SEM
URL	http://www.univie.ac.at/asem/Graz_MC_09/papers/19923.pdf
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0179772

Počet záznamů: 1