Počet záznamů: 1

Local probe microscopy with interferometric monitoring of the stage nanopositioning

SYSNO	0330674
Název	Local probe microscopy with interferometric monitoring of the stage nanopositioning
Tvůrce(i)	Lazar, Josef (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Klapetek, P. (CZ) Číp, Ondřej (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Čížek, Martin (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Šerý, Mojmír (UPT-D)_{RID, SAI}
Zdroj.dok.	Measurement Science and Technology. Roč. 20, č. 8 (2009), 084007: 1-6. - : Institute of Physics Publishing
Druh dok.	Článek v odborném periodiku
Grant	IAA200650504 GA AV ČR - Akademie věd
	2C06012 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
	LC06007 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
	2A-1TP1/127 GA MPO - Ministerstvo průmyslu a obchodu
	FT-TA3/133 GA MPO - Ministerstvo průmyslu a obchodu
	2A-3TP1/113 GA MPO - Ministerstvo průmyslu a obchodu
	GA102/07/1179 GA ČR - Grantová agentura ČR
CEZ	AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011)
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	GB
Klíč.slova	interferometry * local probe microscopy * nanometrology * nanoscale * surface probe microscopy (SPM) * atomic force microscopy (AFM) * nanopositioning interferometry
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0176405

Počet záznamů: 1