Počet záznamů: 1  

Elemental analysis with neutron beams: neutron depth profiling

  1. 1.
    SYSNO0185810
    NázevElemental analysis with neutron beams: neutron depth profiling
    Část.dok.Vol.9, Vol.9
    Tvůrce(i) Vacík, Jiří (UJF-V) RID, ORCID, SAI
    Červená, Jarmila (UJF-V)
    Hnatowicz, Vladimír (UJF-V) RID
    Naramoto, H. (JP)
    Vyd. údajeTokyo: Japan Electrochemical Society, 2003
    Konference Regular Meeting of Japan Electrochemical Society, Tokyo, 07.10.2002
    Druh dok.Konferenční sborník (zahraniční konf.)
    CEZAV0Z1048901 - UJF-V
    Jazyk dok.eng
    Země vyd.JP
    Klíč.slova NDP * elemental analysis
    Trvalý linkhttp://hdl.handle.net/11104/0082174
     

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.