Počet záznamů: 1  

Comparison of GO and polymer microcapacitors prepared by ion beam writing

  1. 1.
    SYSNO ASEP0525636
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JČlánek ve WOS
    NázevComparison of GO and polymer microcapacitors prepared by ion beam writing
    Tvůrce(i) Malinský, Petr (UJF-V) RID, ORCID, SAI
    Romanenko, Oleksandr V. (UJF-V) ORCID, SAI
    Havránek, Vladimír (UJF-V) RID, SAI, ORCID
    Hnatowicz, Vladimír (UJF-V) RID
    Stammers, James H. (UJF-V)
    Cutroneo, Mariapompea (UJF-V) ORCID, RID, SAI
    Novák, Josef (UJF-V) ORCID
    Slepička, P. (CZ)
    Švorčík, V. (CZ)
    Szokolova, K. (CZ)
    Bouša, D. (CZ)
    Sofer, Z. (CZ)
    Macková, Anna (UJF-V) RID, ORCID, SAI
    Celkový počet autorů13
    Zdroj.dok.Surface and Interface Analysis. - : Wiley - ISSN 0142-2421
    Roč. 52, č. 12 (2020), s. 1171-1177
    Poč.str.7 s.
    Forma vydáníTištěná - P
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.US - Spojené státy americké
    Klíč. slovachemical properties ; graphene oxide ; ion beam writing ; microcapacitors ; PMMA
    Vědní obor RIVBG - Jaderná, atomová a mol. fyzika, urychlovače
    Obor OECDAtomic, molecular and chemical physics (physics of atoms and molecules including collision, interaction with radiation, magnetic resonances, Mössbauer effect)
    CEPGA19-02482S GA ČR - Grantová agentura ČR
    LM2015056 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    EF16_013/0001812 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    Způsob publikováníOmezený přístup
    Institucionální podporaUJF-V - RVO:61389005
    UT WOS000544050300001
    EID SCOPUS85087206964
    DOI10.1002/sia.6851
    AnotaceCarbon beam writing was employed as a method for maskless production of microscale capacitors in both insulating graphene oxide (GO) and poly(methyl methacrylate) (PMMA) matrix. The GO and PMMA foils were irradiated using a 5-MeV C(3+)beam with micrometer scale resolution. As follows, the shape of the created microstructures and compositional changes was studied using the scanning electron microscopy/energy-dispersive X-ray spectroscopy method (SEM/EDS). The structural and compositional progression was characterized by Raman spectroscopy, Rutherford backscattering spectroscopy (RBS), and elastic recoil detection analysis (ERDA) spectroscopy. The improvement of the prepared structures' electrical properties was also studied, and it can be concluded that carbon irradiation leads to the removal of oxygen and hydrogen and to growth of the carbon domains, which is connected with the conductivity increase of the irradiated parts and capacitance of the final products in the order of pF.
    PracovištěÚstav jaderné fyziky
    KontaktMarkéta Sommerová, sommerova@ujf.cas.cz, Tel.: 266 173 228
    Rok sběru2021
    Elektronická adresahttps://doi.org/10.1002/sia.6851
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.