Počet záznamů: 1
3D electron diffraction: the nanocrystallography revolution
- 1.
SYSNO ASEP 0522225 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název 3D electron diffraction: the nanocrystallography revolution Tvůrce(i) Gemmi, M. (IT)
Mugnaioli, E. (IT)
Gorelik, T.E. (DE)
Kolb, U. (DE)
Palatinus, Lukáš (FZU-D) RID, ORCID
Boullay, P. (FR)
Hovmoller, S. (SE)
Abrahams, J.P. (CH)Celkový počet autorů 8 Zdroj.dok. ACS Central Science. - : American Chemical Society - ISSN 2374-7943
Roč. 5, č. 8 (2019), s. 1315-1329Poč.str. 14 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova nanocrystalline materials ; electron diffraction ; 3D acquisition ; crystal structure Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus Obor OECD Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.) Způsob publikování Open access Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 UT WOS 000486591500007 EID SCOPUS 85075945528 DOI 10.1021/acscentsci.9b00394 Anotace Crystallography of nanocrystalline materials has witnessed a true revolution in the past 10 years, thanks to the introduction of protocols for 3D acquisition and analysis of electron diffraction data. This method provides single-crystal data of structure solution and refinement quality, allowing the atomic structure determination of those materials that remained hitherto unknown because of their limited crystallinity. Several experimental protocols exist, which share the common idea of sampling a sequence of diffraction patterns while the crystal is tilted around a noncrystallographic axis, namely, the goniometer axis of the transmission electron microscope sample stage. This Outlook reviews most important 3D electron diffraction applications for different kinds of samples and problematics, related with both materials and life sciences. Structure refinement including dynamical scattering is also briefly discussed.
Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2020 Elektronická adresa http://hdl.handle.net/11104/0306743
Počet záznamů: 1