Počet záznamů: 1
Quasi-Moseley's law for strong narrow bandwidth soft x-ray sources containing higher charge-state ions
- 1.
SYSNO ASEP 0510672 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Quasi-Moseley's law for strong narrow bandwidth soft x-ray sources containing higher charge-state ions Tvůrce(i) Ohashi, H. (JP)
Higashiguchi, T. (JP)
Suzuki, Y. (JP)
Arai, G. (JP)
Otani, Y. (JP)
Yatagai, T. (JP)
Li, B. (CN)
Dunne, P. (IE)
O'Sullivan, G. (IE)
Jiang, W. (JP)
Endo, Akira (FZU-D) RID
Sakaue, H.A. (JP)
Kato, D. (JP)
Murakami, I. (JP)
Tamura, M. (JP)
Sudo, S. (JP)
Koike, F. (JP)
Suzuki, Ch. (JP)Celkový počet autorů 18 Číslo článku 234107 Zdroj.dok. Applied Physics Letters. - : AIP Publishing - ISSN 0003-6951
Roč. 104, č. 23 (2014), s. 1-5Poč.str. 5 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova thin plasmas of high-Z elements ; x-ray microscopy Vědní obor RIV BH - Optika, masery a lasery Obor OECD Optics (including laser optics and quantum optics) CEP ED2.1.00/01.0027 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy EE2.3.20.0143 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy Způsob publikování Omezený přístup Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 UT WOS 000337891200107 EID SCOPUS 84902449427 DOI 10.1063/1.4883475 Anotace Bright narrow band emission observed in optically thin plasmas of high-Z elements in the extreme ultraviolet spectral region follows a quasi-Moseley’s law. The peak wavelength can be expressed as k ¼ ð21:86 6 12:09Þ R1 1 ðZ ð23:23 6 2:87ÞÞð1:52 6 0:12Þ , where R1 is the Rydberg constant. The wavelength varies from 13.5 nm to 4.0 nm as the atomic number, Z, increases from Z ¼ 50 to Z ¼ 83. The range of emission wavelengths available from hot optically thin plasmas permits the development of bright laboratory-scale sources for applications including x-ray microscopy and x-ray absorption fine structure determination. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2020 Elektronická adresa https://doi.org/10.1063/1.4883475
Počet záznamů: 1