Počet záznamů: 1  

Time-resolved measurement of thermally induced aberrations in a cryogenically cooled Yb:YAG slab with a wavefront sensor

  1. 1.
    SYSNO ASEP0466507
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JČlánek ve WOS
    NázevTime-resolved measurement of thermally induced aberrations in a cryogenically cooled Yb:YAG slab with a wavefront sensor
    Tvůrce(i) Sikocinski, Pawel (FZU-D) RID
    Novák, Ondřej (FZU-D) RID, ORCID
    Smrž, Martin (FZU-D) RID, ORCID
    Pilař, Jan (FZU-D) RID, ORCID
    Jambunathan, Venkatesan (FZU-D)
    Jelínková, H. (CZ)
    Endo, Akira (FZU-D) RID
    Lucianetti, Antonio (FZU-D) RID, ORCID
    Mocek, Tomáš (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Celkový počet autorů9
    Číslo článku73
    Zdroj.dok.Applied Physics B-Lasers and Optics. - : Springer - ISSN 0946-2171
    Roč. 122, č. 4 (2016), 1-10
    Poč.str.10 s.
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.DE - Německo
    Klíč. slovasolid-state laser ; Yb-Yag
    Vědní obor RIVBH - Optika, masery a lasery
    CEPED2.1.00/01.0027 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    EE2.3.20.0143 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    LO1602 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    GA14-01660S GA ČR - Grantová agentura ČR
    Institucionální podporaFZU-D - RVO:68378271
    UT WOS000372894600006
    EID SCOPUS84961595330
    DOI10.1007/s00340-016-6342-y
    AnotaceThe time-resolved measurements of thermally induced wavefront aberrations in a cryogenically cooled Yb:YAG crystal are presented in dependence on temperature in the range between 250 and 130 K under non-lasing condition. A wavefront sensor was utilized to determine the wavefront aberrations. The wavefront distortions were experimentally studied for a cryogenically cooled Yb: YAG crystal in detail for the first time. The wavefront aberrations were significantly reduced at cryogenic temperatures including defocus which was the dominant aberration and which was responsible for the so-called thermal lensing effect. We found that defocus aberration is caused not only by thermally induced effects (responsible for thermal lens), but also by electronically induced change in the refractive index due to excitation of ion activators which is responsible for the electronic lensing.
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru2017
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.