Počet záznamů: 1
On the Potential Application of the Wrinkled SiGe/SiGe Nanofilms
- 1.
SYSNO ASEP 0458793 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Ostatní články Název On the Potential Application of the Wrinkled SiGe/SiGe Nanofilms Tvůrce(i) Fedorchenko, Alexander I. (UT-L) RID
Cheng, H. H. (TW)
Wang, W. - Ch. (US)Celkový počet autorů 3 Zdroj.dok. World Journal of Mechanics - ISSN 2160-049X
Roč. 6, č. 2 (2016), s. 19-23Poč.str. 5 s. Forma vydání Tištěná - P Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova wrinkled SiGe nanofilms ; terahertz radiation ; terahertz gap Vědní obor RIV BE - Teoretická fyzika Institucionální podpora UT-L - RVO:61388998 DOI 10.4236/wjm.2016.62003 Anotace Terahertz radiation (THzR) consists of electromagnetic waves within the band of frequencies from 0.3 to 3 terahertz with the wavelengths of radiation in the range from 0.1 mm to 1 mm, respe c- tively. The technology for generating and manipulating THzR is still in its initial stage. Herein, we demonstrate that the wrinkled Si 1 – x Ge x /Si 1 – y Ge y films can be used as radiation sources, which emit electromagnetic waves (EMW) in a very wide range of the frequencies including the terahertz band from 0.3 to 3 THz and far IR from 3 THz to 20 THz. These findings provide the theoretical foundation for the wrinkled nanofilm radiation emission and may allow, to some extent, to fill the terahertz gap. Pracoviště Ústav termomechaniky Kontakt Marie Kajprová, kajprova@it.cas.cz, Tel.: 266 053 154 ; Jana Lahovská, jaja@it.cas.cz, Tel.: 266 053 823 Rok sběru 2017
Počet záznamů: 1