Počet záznamů: 1
Crystal structure and magnetic properties of UO.sub.2./sub./permalloy thin films
- 1.
SYSNO ASEP 0455195 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Crystal structure and magnetic properties of UO2/permalloy thin films Tvůrce(i) Tereshina, Evgeniya (FZU-D) RID
Daniš, S. (CZ)
Springell, R. (GB)
Bao, Z. (NL)
Havela, L. (CZ)
Caciuffo, R. (DE)Zdroj.dok. Thin Solid Films. - : Elsevier - ISSN 0040-6090
Roč. 591, Sep (2015), s. 271-275Poč.str. 5 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. CH - Švýcarsko Klíč. slova exchange bias ; permalloy ; uranium dioxide Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus CEP GP13-25866P GA ČR - Grantová agentura ČR Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 UT WOS 000362008000022 EID SCOPUS 84942828699 DOI 10.1016/j.tsf.2015.05.014 Anotace The exchange bias effect was studied on antiferromagnetic-ferromagnetic UO2/permalloy (Ni80Fe20) thin films. Films with a fixed thickness of UO2 layer and variable thickness of the covering Ni80Fe20 layer have been grown by reactive sputter deposition. The X-ray diffraction study showed epitaxial growth of the UO2 layer on (100) CaF2 substrates and a polycrystalline permalloy layer on top of it. The samples exhibited perpendicular exchange bias with the maximum magnitude of 22 mT found in UO2/Ni80Fe20 with the thinnest permalloy of 177 A. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2016
Počet záznamů: 1