Počet záznamů: 1
Využití Fourierovy transformace při obrazové analýze mikrofotografií
- 1.
SYSNO ASEP 0445326 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Ostatní články Název Využití Fourierovy transformace při obrazové analýze mikrofotografií Překlad názvu Application of Fourier transformation in image analysis of microphotographs Tvůrce(i) Šlouf, Miroslav (UMCH-V) RID, ORCID
Vacková, Taťana (UMCH-V) RIDZdroj.dok. Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology. - : Czech and Slovak Crystallographic Association - ISSN 1211-5894
Roč. 22, č. 2 (2015), s. 91-94Poč.str. 4 s. Jazyk dok. cze - čeština Země vyd. CZ - Česká republika Klíč. slova Fourier transform ; microscopy ; image analysis Vědní obor RIV JJ - Ostatní materiály CEP TE01020118 GA TA ČR - Technologická agentura ČR GA14-17921S GA ČR - Grantová agentura ČR Institucionální podpora UMCH-V - RVO:61389013 Anotace Fourierova transformace (FT) je jedním z pokročilých nástrojů, které lze využít při obrazové analýze mikro - fotografií, neboli při „převodu obrázků na čísla“. V tomto příspěvku velmi stručně shrnujeme teorii FT, která souvisí se zpracováním mikrofotografií. Přitom se soustředíme na metody výpočtu a interpretace FT pro čtyři nejčastější případy v této oblasti: (i) jednorozměrnou diskrétní rychlou FT (1D-DFFT) čárových profilů intenzit, (ii) dvou rozměrnou diskrétní rychlou FT (2D-DFFT) vybraných ploch, a převod vypočtených 2D-DFFT na (iii) 1D radiální profily na (iv) 1D azimutální profily. Na příkladech demonstrujeme, jak může FT pomoci zviditelnit periodické vzdálenosti a symetrii v mikro- a nanostruktuře různých polymerních i nepolymerních materiálů. Překlad anotace Fourier transform (FT) is one of advanced tools for image analysis of micrographs. In this contribution, we briefly summarize FT theory associated with image analysis. Then we focus on a fast and easy calculation and interpretation of (i) one-dimensional discrete fast FT (1D-DFFT) of line intensity pro files, (ii) two-dimensional discrete fast FT (2D-DFFT) of selected image areas and transformation of 2D-DFFT images to (iii) 1D radial profiles and (iv) 1D azimuthal profiles. On typical examples, we show how FT analysis reveals periodicity and symmetry of micro- and nanostructured materials. Pracoviště Ústav makromolekulární chemie Kontakt Eva Čechová, cechova@imc.cas.cz ; Tel.: 296 809 358 Rok sběru 2016 Elektronická adresa http://www.xray.cz/ms/bul2015-2.htm
Počet záznamů: 1