Počet záznamů: 1
Reflectivity of very low energy electrons from polycrystalline metal samples
- 1.
SYSNO ASEP 0422680 Druh ASEP K - Konferenční příspěvek (lokální konf.) Zařazení RIV Záznam nebyl označen do RIV Název Reflectivity of very low energy electrons from polycrystalline metal samples Tvůrce(i) Pokorná, Zuzana (UPT-D) RID, ORCID, SAI Celkový počet autorů 1 Zdroj.dok. Mikroskopie 2013. - Praha : Československá mikroskopická společnost, 2013
S. 9Poč.str. 1 s. Forma vydání Tištěná - P Akce Mikroskopie 2013 Datum konání 13.05.2013-14.05.2013 Místo konání Lednice Země CZ - Česká republika Typ akce EUR Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. CZ - Česká republika Klíč. slova eflectivity ; very low energy electros ; polyctystalline metal samples Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika CEP TE01020118 GA TA ČR - Technologická agentura ČR GAP108/11/2270 GA ČR - Grantová agentura ČR Institucionální podpora UPT-D - RVO:68081731 Anotace The reflectivity of very low energy electrons from the surfaces of both single crystal and polycrystalline aluminium and copper was measured in a Scanning Low Energy Electron Microscope in Ultra High Vacuum conditions. This metod alows for an ultra high resolution of the order of units of nanometers even at the lowest electron energies. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2014
Počet záznamů: 1