Počet záznamů: 1  

Reflectivity of very low energy electrons from polycrystalline metal samples

  1. 1.
    SYSNO ASEP0422680
    Druh ASEPK - Konferenční příspěvek (lokální konf.)
    Zařazení RIVZáznam nebyl označen do RIV
    NázevReflectivity of very low energy electrons from polycrystalline metal samples
    Tvůrce(i) Pokorná, Zuzana (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Celkový počet autorů1
    Zdroj.dok.Mikroskopie 2013. - Praha : Československá mikroskopická společnost, 2013
    S. 9
    Poč.str.1 s.
    Forma vydáníTištěná - P
    AkceMikroskopie 2013
    Datum konání13.05.2013-14.05.2013
    Místo konáníLednice
    ZeměCZ - Česká republika
    Typ akceEUR
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.CZ - Česká republika
    Klíč. slovaeflectivity ; very low energy electros ; polyctystalline metal samples
    Vědní obor RIVJA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    CEPTE01020118 GA TA ČR - Technologická agentura České republiky
    GAP108/11/2270 GA ČR - Grantová agentura ČR
    Institucionální podporaUPT-D - RVO:68081731
    AnotaceThe reflectivity of very low energy electrons from the surfaces of both single crystal and polycrystalline aluminium and copper was measured in a Scanning Low Energy Electron Microscope in Ultra High Vacuum conditions. This metod alows for an ultra high resolution of the order of units of nanometers even at the lowest electron energies.
    PracovištěÚstav přístrojové techniky
    KontaktMartina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
    Rok sběru2014
Počet záznamů: 1