Počet záznamů: 1
Impact of crystallisation processes on depth profile formation in sol-gel PbZr.sub.0·52./sub.Ti.sub.0·48./sub.O.sub.3./sub. thin films
- 1.
SYSNO ASEP 0392014 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Impact of crystallisation processes on depth profile formation in sol-gel PbZr0·52Ti0·48O3 thin films Tvůrce(i) Aulika, I. (IT)
Mergen, S. (AU)
Bencan, A. (SI)
Zhang, Q. (GB)
Dejneka, Alexandr (FZU-D) RID, ORCID
Kosec, M. (SI)
Kundzins, K. (LT)
Demarchi, D. (IL)
Civera, P. (IT)Zdroj.dok. Advances in Applied Ceramics . - : Taylor & Francis - ISSN 1743-6753
Roč. 112, č. 1 (2013), s. 53-58Poč.str. 6 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. GB - Velká Británie Klíč. slova compositional and optical gradien ; PZT ; spectroscopic ellipsometry ; crystallisation proces ; sol-gel ; XRD ; thin films ; depth profile ; spectroscopic elipsometry Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus CEP TA01010517 GA TA ČR - Technologická agentura ČR GAP108/12/1941 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z10100522 - FZU-D (2005-2011) UT WOS 000314664100008 DOI 10.1179/1743676112Y.0000000019 Anotace This study revealed the influence of crystallisation processes on the homogeneity of the sol-gel PbZr0·52Ti0·48O3 thin films, allowing identification and further optimisation of thin film performance. Crystallisation processes determine the optical gradient appearance, irrespective of the chemical solvents used in this work. X-ray diffraction analysis showed that a refractive index gradient was apparent in the samples which had dominant (001)/(100) orientation and significant change of lattice parameters with thickness. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2014
Počet záznamů: 1