Počet záznamů: 1  

Scanning Electron Microscopy with Samples in an Electric Field

  1. 1.
    SYSNO ASEP0385193
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JČlánek ve WOS
    NázevScanning Electron Microscopy with Samples in an Electric Field
    Tvůrce(i) Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Hovorka, Miloš (UPT-D)
    Mikmeková, Šárka (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Mikmeková, Eliška (UPT-D) RID
    Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Pokorná, Zuzana (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Celkový počet autorů6
    Zdroj.dok.Materials. - : MDPI
    Roč. 5, č. 12 (2012), s. 2731-2756
    Poč.str.26 s.
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.CH - Švýcarsko
    Klíč. slovascanning electron microscopy ; slow electrons ; low energy SEM ; low energy STEM ; cathode lens
    Vědní obor RIVJA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    CEPGAP108/11/2270 GA ČR - Grantová agentura ČR
    TE01020118 GA TA ČR - Technologická agentura ČR
    ED0017/01/01 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    Institucionální podporaUPT-D - RVO:68081731
    UT WOS000312608500016
    EID SCOPUS84876478039
    DOI10.3390/ma5122731
    AnotaceThe high negative bias of a sample in a scanning electron microscope constitutes the “cathode lens” with a strong electric field just above the sample surface. This mode offers a convenient tool for controlling the landing energy of electrons down to units or even fractions of electronvolts with only slight readjustments of the column. Moreover, the field accelerates and collimates the signal electrons to earthed detectors above and below the sample, thereby assuring high collection efficiency and high amplification of the image signal. One important feature is the ability to acquire the complete emission of the backscattered electrons, including those emitted at high angles with respect to the surface normal. The cathode lens aberrations are proportional to the landing energy of electrons so the spot size becomes nearly constant throughout the full energy scale. At low energies and with their complete angular distribution acquired, the backscattered electron images offer enhanced information about crystalline and electronic structures thanks to contrast mechanisms that are otherwise unavailable. Examples from various areas of materials science are presented.
    PracovištěÚstav přístrojové techniky
    KontaktMartina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
    Rok sběru2013
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.