Počet záznamů: 1  

AFM topographies of densely packed nanoparticles: a quick way to determine the lateral size distribution by autocorrelation function analysis

  1. 1.
    SYSNO ASEP0383750
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JČlánek ve WOS
    NázevAFM topographies of densely packed nanoparticles: a quick way to determine the lateral size distribution by autocorrelation function analysis
    Tvůrce(i) Fekete, Ladislav (FZU-D) RID, ORCID
    Kůsová, Kateřina (FZU-D) RID, ORCID
    Petrák, Václav (FZU-D) RID, ORCID
    Kratochvílová, Irena (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Zdroj.dok.Journal of Nanoparticle Research. - : Springer - ISSN 1388-0764
    Roč. 14, č. 8 (2012), s. 1-10
    Poč.str.10 s.
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.NL - Nizozemsko
    Klíč. slovalateral grain size distribution ; AFM ; autocorrelation function ; nanodiamond
    Vědní obor RIVBM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    CEPKAN200100801 GA AV ČR - Akademie věd
    TA01011165 GA TA ČR - Technologická agentura ČR
    GAP304/10/1951 GA ČR - Grantová agentura ČR
    GPP204/12/P235 GA ČR - Grantová agentura ČR
    CEZAV0Z10100520 - FZU-D (2005-2011)
    UT WOS000307273400085
    DOI10.1007/s11051-012-1062-7
    AnotaceThe distribution of sizes is one of the basic characteristics of nanoparticles. Here, we propose a novel way to determine the lateral distribution of sizes from AFM topographies. Our algorithm is based on the autocorrelation function and can be applied both on topographies containing spatially separated and densely packed nanoparticles as well as on topographies of polycrystalline films. As no manual treatment is required, this algorithm can be easily automatable for batch processing. The algorithm works in principle with any kind of spatially mapped information (AFM current maps, optical microscope images, etc.), and as such has no size limitations. However, in the case of AFM topographies, the tip/sample convolution effects will be the factor limiting the smallest size to which the algorithm is applicable. Here, we demonstrate the usefulness of this algorithm on objects with sizes ranging between 20 nm and 1.5 μm.
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru2013
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.