Počet záznamů: 1
Investigation of multilayer X-ray optics for 6 keV to 20 keV energy range
- 1.
SYSNO ASEP 0380741 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Investigation of multilayer X-ray optics for 6 keV to 20 keV energy range Tvůrce(i) Oberta, Peter (FZU-D) RID, ORCID
Platonov, Y. (US)
Flechsig, U. (CH)Celkový počet autorů 3 Zdroj.dok. Journal of Synchrotron Radiation. - : Oxford Blackwell - ISSN 0909-0495
Roč. 19, č. 5 (2012), s. 675-681Poč.str. 7 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. DK - Dánsko Klíč. slova X-ray optics ; multilayer ; energy resolution Vědní obor RIV BH - Optika, masery a lasery CEZ AV0Z10100522 - FZU-D (2005-2011) UT WOS 000307700100002 DOI 10.1107/S0909049512032153 Anotace The X-ray optics group at the SLS (Swiss Light Source) in co-operation with RIT (Rigaku Innovative Technologies) has investigated seven different multilayer samples. The goal was to find an ideal multilayer structure for the energy range between 6 keV - 20 keV in terms of energy resolution and reflectivity. Such multilayer structures deposited on substrates can be used as X-ray monochromators or reflecting synchrotron mirrors. The measured reflectivities agree with the simulated ones. They are covering a reflectivity range from 45% - 80% for energies between 6 keV - 10 keV and 80% - 90% for energies between 10 keV - 20 keV. The experimentally measured energy resolution of the samples lies between 0.3% - 3.5%. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2013
Počet záznamů: 1