Počet záznamů: 1
Very low energy scanning electron microscopy in nanotechnology
- 1.
SYSNO ASEP 0375383 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Very low energy scanning electron microscopy in nanotechnology Tvůrce(i) Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Hovorka, Miloš (UPT-D)
Mika, Filip (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Mikmeková, Eliška (UPT-D) RID
Mikmeková, Šárka (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Pokorná, Zuzana (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCIDCelkový počet autorů 7 Zdroj.dok. International Journal of Nanotechnology - ISSN 1475-7435
Roč. 9, 8/9 (2012), s. 695-716Poč.str. 22 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. GB - Velká Británie Klíč. slova scanning electron microscopy ; very low energy electrons ; cathode lens ; grain contrast ; strain contrast ; imaging of participates ; dopant contrast ; very low energy STEM ; graphene Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika CEP OE08012 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ED0017/01/01 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy IAA100650902 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011) UT WOS 000303800500004 EID SCOPUS 84860764190 DOI 10.1504/IJNT.2012.046749 Anotace The group of low energy electron microscopy at ISI AS CR in Brno has developed a methodology for very low energy scanning electron microscopy at high image resolution by means of an immersion electrostatic lens (the cathode lens) inserted between the illumination column of a conventional scanning electron microscope and the sample. In this way the microscope resolution can be preserved down to a landing energy of the electrons one or even fractions of an electronvolt. In the range of less than several tens of electronvolts the image signal generation processes include contrast mechanisms not met at higher energies, which respond to important features of the 3D inner potential of the target and visualise its local crystallinity as well as the electronic structure. The elecfron wavelength comparable with interatomic distances allows observation of various wave-optical phenomena in imaging. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2012
Počet záznamů: 1