Počet záznamů: 1  

Very low energy scanning electron microscopy in nanotechnology

  1. 1.
    SYSNO ASEP0375383
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JČlánek ve WOS
    NázevVery low energy scanning electron microscopy in nanotechnology
    Tvůrce(i) Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Hovorka, Miloš (UPT-D)
    Mika, Filip (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Mikmeková, Eliška (UPT-D) RID
    Mikmeková, Šárka (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Pokorná, Zuzana (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Celkový počet autorů7
    Zdroj.dok.International Journal of Nanotechnology - ISSN 1475-7435
    Roč. 9, 8/9 (2012), s. 695-716
    Poč.str.22 s.
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.GB - Velká Británie
    Klíč. slovascanning electron microscopy ; very low energy electrons ; cathode lens ; grain contrast ; strain contrast ; imaging of participates ; dopant contrast ; very low energy STEM ; graphene
    Vědní obor RIVJA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    CEPOE08012 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    ED0017/01/01 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    IAA100650902 GA AV ČR - Akademie věd
    CEZAV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011)
    UT WOS000303800500004
    EID SCOPUS84860764190
    DOI10.1504/IJNT.2012.046749
    AnotaceThe group of low energy electron microscopy at ISI AS CR in Brno has developed a methodology for very low energy scanning electron microscopy at high image resolution by means of an immersion electrostatic lens (the cathode lens) inserted between the illumination column of a conventional scanning electron microscope and the sample. In this way the microscope resolution can be preserved down to a landing energy of the electrons one or even fractions of an electronvolt. In the range of less than several tens of electronvolts the image signal generation processes include contrast mechanisms not met at higher energies, which respond to important features of the 3D inner potential of the target and visualise its local crystallinity as well as the electronic structure. The elecfron wavelength comparable with interatomic distances allows observation of various wave-optical phenomena in imaging.
    PracovištěÚstav přístrojové techniky
    KontaktMartina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
    Rok sběru2012
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.