Počet záznamů: 1
Standing-Wave Interferometer with Stabilization of Wavelength on Air
- 1.
SYSNO ASEP 0368143 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV D - Článek ve sborníku Název Standing-Wave Interferometer with Stabilization of Wavelength on Air Tvůrce(i) Lazar, Josef (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Číp, Ondřej (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Čížek, Martin (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Hrabina, Jan (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Buchta, Zdeněk (UPT-D) RID, SAI, ORCIDCelkový počet autorů 5 Zdroj.dok. Proceedings of the 20th IMEKO TC2 Symposium on Photonics in Measurement. - Aachen : Shaker Verlag, 2011 - ISBN 978-3-8440-0058-0 Rozsah stran s. 25-29 Poč.str. 5 s. Akce IMEKO TC2 Symposium on Photonics in Measurement /20./ Datum konání 16.05.2011-18.05.2011 Místo konání Linz Země AT - Rakousko Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. DE - Německo Klíč. slova refractometry ; nanopositioning ; interferometry ; nanometrology Vědní obor RIV BH - Optika, masery a lasery CEP LC06007 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy KAN311610701 GA AV ČR - Akademie věd GA102/09/1276 GA ČR - Grantová agentura ČR GPP102/11/P820 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011) Anotace We present an experimental arrangement of an interferometric system designed to operate with full compensation for varying refractive index of air in the measuring axis. The concept is based on a principle where the wavelength of the laser source is derived not from an optical frequency of the stabilized laser but from a fixed length being a base-plate or a frame of the whole measuring setup. This results into stabilization of the wavelength of the laser source in atmospheric conditions to mechanical length of suitable etalon made of a material with very low thermal expansion. The ultra-low thermal expanding glass ceramic materials available on the market perform thermal expansion coefficients on the level 10-8 which significantly exceeds the limits of uncertainty posed by indirect evaluation of refractive index of air through Edlen formula. This approach represents a contribution primarily to high-resolution and high-precision dimensional metrology in the nanoscale. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2012
Počet záznamů: 1