Počet záznamů: 1
Solid State Field-Assisted Diffusion of Copper in Multi-Component Tellurite Glass
- 1.
SYSNO ASEP 0368047 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Solid State Field-Assisted Diffusion of Copper in Multi-Component Tellurite Glass Tvůrce(i) Stepanov, B. (RU)
Ren, J. (CN)
Wágner, T. (CZ)
Lorinčík, Jan (URE-Y)
Frumar, M. (CZ)
Churbanov, M. (RU)
Chigirinsky, Y. (RU)Celkový počet autorů 7 Zdroj.dok. Journal of the American Ceramic Society. - : Wiley - ISSN 0002-7820
Roč. 94, č. 7 (2011), 1986-1988Poč.str. 3 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova Solid state diffusion ; Secondary Ion Mass Spectrometry ; Tellurite glass Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika CEZ AV0Z20670512 - URE-Y (2005-2011) UT WOS 000292606600007 DOI 10.1111/j.1551-2916.2011.04606.x Anotace Copper doped multi-component tellurite glasses were prepared by solid state electric field assisted diffusion. The concentration profiles of the elements have been measured by the secondary ion mass spectrometry. The depth profile of copper can be well fitted only by a modified erfc-like solution of the second Fick’s law, which assumes that both Cu+ and Cu2+ ions are involved in the diffusion. The modeling shows that the Cu2+ ions are much more mobile than the Cu+ ones in the tellurite glasses and affected strongly by the applied electric field. Our results demonstrate the possibility of fabrication of copper doped planar waveguides based on the tellurite glasses. Pracoviště Ústav fotoniky a elektroniky Kontakt Petr Vacek, vacek@ufe.cz, Tel.: 266 773 413, 266 773 438, 266 773 488 Rok sběru 2012
Počet záznamů: 1