Počet záznamů: 1  

Time-resolved plasma parameters in the HiPIMS discharge with Ti target in Ar/O2 atmosphere

  1. 1.
    SYSNO ASEP0364640
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JČlánek ve WOS
    NázevTime-resolved plasma parameters in the HiPIMS discharge with Ti target in Ar/O2 atmosphere
    Tvůrce(i) Čada, Martin (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Hubička, Zdeněk (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Adámek, Petr (FZU-D) RID, ORCID
    Klusoň, Jan (FZU-D)
    Jastrabík, Lubomír (FZU-D) RID, ORCID
    Zdroj.dok.Surface and Coatings Technology. - : Elsevier - ISSN 0257-8972
    Roč. 205, č. 2 (2011), S317-S321
    Poč.str.4 s.
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.CH - Švýcarsko
    Klíč. slovaHiPIMS ; Langmuir probe ; ion flux ; reactive sputtering
    Vědní obor RIVBH - Optika, masery a lasery
    CEPGP202/09/P159 GA ČR - Grantová agentura ČR
    KJB100100805 GA AV ČR - Akademie věd
    1M06002 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    KAN400720701 GA AV ČR - Akademie věd
    GA202/09/0800 GA ČR - Grantová agentura ČR
    CEZAV0Z10100522 - FZU-D (2005-2011)
    UT WOS000293258600068
    DOI10.1016/j.surfcoat.2010.11.050
    AnotaceA High Power Impulse Magnetron Sputtering System(HiPIMS) equipped with a titanium target 5 cm in diameter has been investigated by means of a time-resolved Langmuir probe and time-resolved ion flux probe. The plasma parameters have been measured in a distance of 70 mm from the target face and below the racetrack. The ion flux at the substrate (placed at the same position as the Langmuir probe) has been determined from the voltage drop across a resistor connected with the planar probe. The planar probe was pulsed at a repetition rate of 50 kHz, duty cycle 50%. The effects of working gas pressure and mean discharge current have been investigated.
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru2012
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.