Počet záznamů: 1

Damage threshold of amorphous carbon mirror for 177 eV FEL radiation

SYSNO ASEP	0363883
Druh ASEP	J - Článek v odborném periodiku
Zařazení RIV	J - Článek v odborném periodiku
Poddruh J	Článek ve WOS
Název	Damage threshold of amorphous carbon mirror for 177 eV FEL radiation
Tvůrce(i)	Farahani, S.D. (DE) Chalupský, Jaromír (FZU-D)_{RID, ORCID} Burian, Tomáš (FZU-D)_{RID, ORCID} Chapman, H. (DE) Gleeson, A.J. (GB) Hájková, Věra (FZU-D)_{RID, ORCID} Juha, Libor (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI} Jurek, M. (PL) Klinger, D. (PL) Sinn, H. (DE) Sobierajski, R. (PL) Störmer, M. (DE) Tiedtke, K. (DE) Toleikis, S. (DE) Tschentscher, T. (DE) Wabnitz, H. (DE) Gaudin, J. (DE)
Zdroj.dok.	Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A. - : Elsevier - ISSN 0168-9002 Roč. 635, č. 1 (2011), S39-S42
Poč.str.	4 s.
Jazyk dok.	eng - angličtina
Země vyd.	NL - Nizozemsko
Klíč. slova	X-ray mirror ; FEL radiation ; damage
Vědní obor RIV	BH - Optika, masery a lasery
CEP	LC510 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
	LC528 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
	GAP108/11/1312 GA ČR - Grantová agentura ČR
CEZ	AV0Z10100523 - FZU-D (2005-2011)
UT WOS	000289180100008
DOI	10.1016/j.nima.2010.10.133
Anotace	We present results of damage studies performed at the Free-Electron LASer in Hamburg (FLASH) on amorphous carbon (a-C). The experiment was performed in the total external reflection geometry representing the working configuration of X-ray mirrors. The 177 eV photon laser beam was focused on a 40 nm thin layer of a-C coated on a silicon substrate. Single-shot damages were produced at two different grazing angles (4.3 degrees and 7.7 degrees) below the critical angle (0(c)=8 degrees) calculated for this photon energy. The corresponding damage fluence thresholds were determined to be 43.7 and 74 mJ/cm(2). No evidence of delamination or mechanical damages (cracks) under grazing angles on the 40 nm thin sample was observed. The results are compared with the results of the previous experiment done on thicker layers (900 nm) of a-C with the same experimental conditions [1].
Pracoviště	Fyzikální ústav
Kontakt	Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
Rok sběru	2012

Počet záznamů: 1