Počet záznamů: 1  

InAs/GaAs quantum dot capping in kinetically limited MOVPE growth regime

  1. 1.
    SYSNO ASEP0359526
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JČlánek ve WOS
    NázevInAs/GaAs quantum dot capping in kinetically limited MOVPE growth regime
    Tvůrce(i) Hospodková, Alice (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Pangrác, Jiří (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Vyskočil, Jan (FZU-D) RID
    Oswald, Jiří (FZU-D) RID, ORCID
    Vetushka, Aliaksi (FZU-D) RID, ORCID
    Caha, O. (CZ)
    Hazdra, P. (CZ)
    Kuldová, Karla (FZU-D) RID, ORCID
    Hulicius, Eduard (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Zdroj.dok.Journal of Crystal Growth. - : Elsevier - ISSN 0022-0248
    Roč. 317, č. 1 (2011), s. 39-42
    Poč.str.4 s.
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.NL - Nizozemsko
    Klíč. slovalow dimensional structures ; photoluminescence ; low-pressure MOVPE ; InAs/GaAs quantum dots ; semiconducting III–V materials
    Vědní obor RIVBM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    CEPGAP102/10/1201 GA ČR - Grantová agentura ČR
    GAP108/10/0253 GA ČR - Grantová agentura ČR
    LC510 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    GA202/09/0676 GA ČR - Grantová agentura ČR
    CEZAV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011)
    UT WOS000288837700008
    DOI10.1016/j.jcrysgro.2010.12.076
    AnotaceInAs/GaAs quantum dot(QD)properties can be significantly influenced by the growth conditions of the QD capping layer. We have studied the effect of a group III partial pressure in the reactor on the QD capping process and on the QD photoluminescence when the capping layer is grow nunder the kinetically limited regime. Two types of capping layers were prepared: GaAs and InGaAs. The GaAs capping layer growth rate decrease did not influence QD dissolution, but increased the dissolution of big hillocks. Influence of the GaAs capping layer thickness on QD photoluminescence is also demonstrated. The composition of the ternary strain reducing InGaAs capping layer can beconsiderably changed depending on the V/III ratio under kinetically limited growth.
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru2012
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.