Počet záznamů: 1  

Spot size characterization of focused non-Gaussian X-ray laser beams

  1. 1.
    SYSNO ASEP0359300
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JČlánek ve WOS
    NázevSpot size characterization of focused non-Gaussian X-ray laser beams
    Tvůrce(i) Chalupský, Jaromír (FZU-D) RID, ORCID
    Krzywinski, J. (US)
    Juha, Libor (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Hájková, Věra (FZU-D) RID, ORCID
    Cihelka, Jaroslav (FZU-D)
    Burian, Tomáš (FZU-D) RID, ORCID
    Vyšín, Luděk (FZU-D) RID, ORCID
    Gaudin, J. (DE)
    Gleeson, A. (GB)
    Jurek, M. (PL)
    Khorsand, A.R. (NL)
    Klinger, D. (PL)
    Wabnitz, H. (DE)
    Sobierajski, R. (PL)
    Störmer, M. (DE)
    Tiedtke, K. (DE)
    Toleikis, S. (DE)
    Zdroj.dok.Optics Express. - : Optical Society of America - ISSN 1094-4087
    Roč. 18, č. 26 (2010), s. 27836-27845
    Poč.str.10 s.
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.US - Spojené státy americké
    Klíč. slovaX-ray laser ; free-electron laser ; beam characterization ; ablation
    Vědní obor RIVBH - Optika, masery a lasery
    CEPKAN300100702 GA AV ČR - Akademie věd
    LC510 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    LC528 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    GAP208/10/2302 GA ČR - Grantová agentura ČR
    LA08024 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    IAAX00100903 GA AV ČR - Akademie věd
    ME10046 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    CEZAV0Z10100523 - FZU-D (2005-2011)
    UT WOS000285584200115
    DOI10.1364/OE.18.027836
    AnotaceWe present a new technique for the characterization of non-Gaussian laser beams which cannot be described by an analytical formula. As a generalization of the beam spot area we apply and refine the definition of so called effective area (A(eff)) [1] in order to avoid using the full-width at half maximum (FWHM) parameter which is inappropriate for non-Gaussian beams. Furthermore, we demonstrate a practical utilization of our technique for a femtosecond soft X-ray free-electron laser. The ablative imprints in poly(methyl methacrylate) - PMMA and amorphous carbon (a-C) are used to characterize the spatial beam profile and to determine the effective area. Two procedures of the effective area determination are presented in this work. An F-scan method, newly developed in this paper, appears to be a good candidate for the spatial beam diagnostics applicable to lasers of various kinds.
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru2012
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.