Počet záznamů: 1
Contact system of solid state surface mapping
- 1.
SYSNO ASEP 0356357 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV D - Článek ve sborníku Název Contact system of solid state surface mapping Tvůrce(i) Hiklová, Helena (FZU-D) RID
Havelková, Martina (FZU-D) RID, ORCID
Chmelíčková, Hana (FZU-D) RID
Lapšanská, Hana (FZU-D)Zdroj.dok. Experimental Stress Analysis 2010. - Olomouc : Palacky University, 2010 / Šmíd P. ; Horváth P. ; Hrabovský M. - ISBN 978-80-244-2533-7 Rozsah stran s. 89-93 Poč.str. 5 s. Akce International Scientific Conference Experimental Stress Analysis 2010 /48./ Datum konání 31.05.2010-03.06.2010 Místo konání Velké Losiny Země CZ - Česká republika Typ akce EUR Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. CZ - Česká republika Klíč. slova contact sensing ; contact profilometer ; 3D imaging of solid surfaces Vědní obor RIV BH - Optika, masery a lasery CEP KAN301370701 GA AV ČR - Akademie věd 1M06002 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy CEZ AV0Z10100522 - FZU-D (2005-2011) UT WOS 000283463400012 Anotace The advantages of contact solid state surface mapping are reminded in this paper. Some possibilities are demonstrated by several examples. These examples include measuring of laser beam treated silicon surface and mapping of laser cuts in metal sheets. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2011
Počet záznamů: 1