Počet záznamů: 1
Time-resolved opto-electronic properties of poly(3-hexylthiophene-2,5-dyil): fullerene heterostructures detected by Kelvin force microscopy
- 1.
SYSNO ASEP 0354952 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Time-resolved opto-electronic properties of poly(3-hexylthiophene-2,5-dyil): fullerene heterostructures detected by Kelvin force microscopy Tvůrce(i) Čermák, Jan (FZU-D) RID, SAI, ORCID
Rezek, Bohuslav (FZU-D) RID, ORCID
Cimrová, Věra (UMCH-V) RID, ORCID
Fejfar, Antonín (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Purkrt, Adam (FZU-D) RID
Vaněček, Milan (FZU-D) RID
Kočka, Jan (FZU-D) RID, ORCID, SAICelkový počet autorů 7 Zdroj.dok. Thin Solid Films. - : Elsevier - ISSN 0040-6090
Roč. 519, č. 2 (2010), s. 836-840Poč.str. 5 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. CH - Švýcarsko Klíč. slova photovoltaics ; bulk-heterojunction ; atomic force microscopy ; Kelvin force microscopy Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus CEP GD202/09/H041 GA ČR - Grantová agentura ČR LC06040 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy KAN400100701 GA AV ČR - Akademie věd LC510 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy 1M06031 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy CEZ AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011) AV0Z40500505 - UMCH-V (2005-2011) UT WOS 000284499500050 DOI 10.1016/j.tsf.2010.08.132 Anotace Thin blend polymer films made of P3HT and fullerene derivatives are studied by Kelvin force microscopy (KFM). Shifting of the surface potential under white light illumination is attributed to free charge carrier generation and redistribution. Decrease of the photo-induced shifting in time is most probably attributed to degradation of the films in air. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2011
Počet záznamů: 1