Počet záznamů: 1
The interfacial properties of MgCl.sub.2./sub. thin films grown on Ti(001)
- 1.
SYSNO ASEP 0354580 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název The interfacial properties of MgCl2 thin films grown on Ti(001) Tvůrce(i) Karakalos, S. (GR)
Siokou, A. (GR)
Sutara, F. (IT)
Skála, T. (IT)
Vitaliy, F. (IT)
Ladas, S. (GR)
Prince, K. (IT)
Matolin, V. (CZ)
Cháb, Vladimír (FZU-D) RID, ORCIDZdroj.dok. Journal of Chemical Physics. - : AIP Publishing - ISSN 0021-9606
Roč. 133, č. 7 (2010), 074701/1-074701/11Poč.str. 11 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova silicon, ; photoemission ; thin films Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus CEZ AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011) UT WOS 000281154200032 DOI 10.1063/1.3473933 Anotace Photoelectron spectroscopy with synchrotron radiation (SRPES), temperature programmed desorption (TPD), low energy electron diffraction (LEED), and ion-scattering spectroscopy (ISS) were used in order to study the MgCl.2/Ti(0001) interface. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2011
Počet záznamů: 1