Počet záznamů: 1
Development and performance test of picosecond pulse X-ray excited streak camera system for scintillator characterization
- 1.
SYSNO ASEP 0353670 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Development and performance test of picosecond pulse X-ray excited streak camera system for scintillator characterization Tvůrce(i) Yanagida, T. (JP)
Fujimoto, Y. (JP)
Yoshikawa, A. (JP)
Yokota, Y. (JP)
Kamada, K. (JP)
Pejchal, Jan (FZU-D) RID, ORCID
Chani, V. (JP)
Kawaguchi, N. (JP)
Fukuda, K. (JP)
Uchiyama, K. (JP)
Mori, K. (JP)
Kitano, K. (JP)
Nikl, Martin (FZU-D) RID, ORCID, SAIZdroj.dok. Applied Physics Express - ISSN 1882-0778
Roč. 3, č. 5 (2010), 056202/1-056202/3Poč.str. 3 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. JP - Japonsko Klíč. slova scintillation decay ; streak camera ; picosecond X-ray pulse ; BaF2 Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus CEZ AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011) UT WOS 000277992300021 DOI 10.1143/APEX.3.056202 Anotace To observe time and wavelength-resolved scintillation events, picosecond pulse X-ray excited streak camera system is developed. The wavelength range spreads from VUV to near infrared region (110-900 nm) and the instrumental response function is around 80 ps. This work describes the principle of the newly developed instrument and the first performance test using BaF2 single crystal scintillator. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2011
Počet záznamů: 1