Počet záznamů: 1
Accurate and Easy-to-use Electron Optical Design Program for Microscopy
- 1.
SYSNO ASEP 0353047 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV D - Článek ve sborníku Název Accurate and Easy-to-use Electron Optical Design Program for Microscopy Tvůrce(i) Zlámal, J. (CZ)
Lencová, Bohumila (UPT-D) RID, SAIZdroj.dok. Proceedings of the 17th IFSM International Microscopy Congress. - Rio de Janeiro : Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanilise, 2010 - ISBN 978-85-63273-06-2 Rozsah stran i1.6:1-2 Poč.str. 2 s. Akce International Microscopy Congress (IMC17) /17./ Datum konání 19.09.2010-24.09.2010 Místo konání Rio de Janeiro Země BR - Brazílie Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. BR - Brazílie Klíč. slova EOD ; FEM ; Windows Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika CEP IAA100650805 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011) Anotace Finite Element Method (FEM) has become the universal method for computing 2D potentials in rotationally symmetric electrostatic and saturated magnetic lenses, electrostatic multipoles and magnetic deflection coils inside lenses. For all these elements optimum methods for computing the first order FEM equations were derived, fast solution algorithms implemented and an option for accuracy evaluation of lens field added. Determination of the optical properties is complemented with high accuracy ray tracing which allows extracting the aberration coefficients of up to the 5th order from the ray-traced results. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2011
Počet záznamů: 1