Počet záznamů: 1  

Accurate and Easy-to-use Electron Optical Design Program for Microscopy

  1. 1.
    SYSNO ASEP0353047
    Druh ASEPC - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
    Zařazení RIVD - Článek ve sborníku
    NázevAccurate and Easy-to-use Electron Optical Design Program for Microscopy
    Tvůrce(i) Zlámal, J. (CZ)
    Lencová, Bohumila (UPT-D) RID, SAI
    Zdroj.dok.Proceedings of the 17th IFSM International Microscopy Congress. - Rio de Janeiro : Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanilise, 2010 - ISBN 978-85-63273-06-2
    Rozsah strani1.6:1-2
    Poč.str.2 s.
    AkceInternational Microscopy Congress (IMC17) /17./
    Datum konání19.09.2010-24.09.2010
    Místo konáníRio de Janeiro
    ZeměBR - Brazílie
    Typ akceWRD
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.BR - Brazílie
    Klíč. slovaEOD ; FEM ; Windows
    Vědní obor RIVJA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    CEPIAA100650805 GA AV ČR - Akademie věd
    CEZAV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011)
    AnotaceFinite Element Method (FEM) has become the universal method for computing 2D potentials in rotationally symmetric electrostatic and saturated magnetic lenses, electrostatic multipoles and magnetic deflection coils inside lenses. For all these elements optimum methods for computing the first order FEM equations were derived, fast solution algorithms implemented and an option for accuracy evaluation of lens field added. Determination of the optical properties is complemented with high accuracy ray tracing which allows extracting the aberration coefficients of up to the 5th order from the ray-traced results.
    PracovištěÚstav přístrojové techniky
    KontaktMartina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
    Rok sběru2011
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.