Počet záznamů: 1  

Limits of applicability of a time-of-flight ion-mass analyzer in uncovering partial currents of ions emitted by pulsed laser ion sources

  1. 1.
    SYSNO ASEP0352581
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JČlánek ve WOS
    NázevLimits of applicability of a time-of-flight ion-mass analyzer in uncovering partial currents of ions emitted by pulsed laser ion sources
    Tvůrce(i) Krása, Josef (FZU-D) RID, ORCID
    Láska, Leoš (FZU-D)
    Rohlena, Karel (FZU-D) RID
    Velyhan, Andriy (FZU-D) RID, ORCID
    Czarnecka, A. (PL)
    Parys, P. (PL)
    Ryc, L. (PL)
    Wolowski, J. (PL)
    Zdroj.dok.Radiation Effects and Defects in Solids. - : Taylor & Francis - ISSN 1042-0150
    Roč. 165, 6-10 (2010), s. 441-450
    Poč.str.10 s.
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.GB - Velká Británie
    Klíč. slovalaser-produced plasma ; time-resolved current deconvolution ; ion velocity distribution ; drift velocity of ions
    Vědní obor RIVBL - Fyzika plazmatu a výboje v plynech
    CEPLC528 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    IAA100100715 GA AV ČR - Akademie věd
    CEZAV0Z10100523 - FZU-D (2005-2011)
    UT WOS000281854500007
    DOI10.1080/10420151003718402
    AnotaceThe emission of Fe ions and ionized admixtures of silicon, carbon, oxygen and hydrogen generated by a Nd:YAG laser (I ≈ 1x10^10 W/cm^2) is investigated with the use of ion collectors (IC) and a cylindrical electrostatic ion mass analyzer (CEA). The partial currents of ion species are reconstructed from a set of CEA spectra obtained by changing the voltage between the CEA's cylindrical deflecting plates. The basic difference between the sum of all the reconstructed partial currents and the corresponding IC current is analyzed and the reasons for differences are specified.
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru2011
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.