Počet záznamů: 1

Scanning Low Energy Electron Microscopy - A PowerfuleTool for Materials Science

SYSNO ASEP	0352510
Druh ASEP	C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
Zařazení RIV	D - Článek ve sborníku
Název	Scanning Low Energy Electron Microscopy - A PowerfuleTool for Materials Science
Tvůrce(i)	Mikmeková, Šárka (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Matsuda, K. (JP) Watanabe, K. (JP) Mizutani, M. (JP) Narukawa, Y. (JP) Müllerová, Ilona (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Frank, Luděk (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID}
Celkový počet autorů	7
Zdroj.dok.	Proceedings of 5th Japan-China-Norway Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology. - Toyama : University of Toyama, 2010 - ISBN 978-4-9903248-2-7
Rozsah stran	s. 77-78
Poč.str.	2 s.
Akce	JCNCS2010 /5./ Japan-China-Norway Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology
Datum konání	12.09.2010-15.09.2010
Místo konání	Toyama
Země	JP - Japonsko
Typ akce	WRD
Jazyk dok.	eng - angličtina
Země vyd.	JP - Japonsko
Klíč. slova	scanning low energy electron microscopy ; AZ 91 ; AZ 96 ; UFG Al ; matal matrix composite materials
Vědní obor RIV	JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
CEZ	AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011)
Anotace	Progress in materials research is inseparably connected to the development of new analytical methods, which make it possible to examine. The aging hardness the structures of materials at high spatial resolution and sensitivity. A very promising technique for study the microstructure of advanced materials is the scanning low energy electron microscopy (SLEEM).
Pracoviště	Ústav přístrojové techniky
Kontakt	Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
Rok sběru	2011

Počet záznamů: 1